PMI 介紹 移動式直讀光譜儀
移動式光譜儀技術特點
移動式光譜儀是針對在工業現場對金屬材料進行快速鑒定和精確分析而設計的。可準確測定鋼鐵中的 C、P、S。
具有兩種非常穩定的激發源:空氣模式下直流電弧激發 (DC-ARC) 及氬氣模式下的高頻火花激發 (high-frequency-SPARK) ,並可在數秒內就不同測量模式進行切換,波長覆蓋 170-420nm,可分析基體包括 Fe、Cu、Al、Mg、Ni、Ti、Zn、Co 等。基於所選激發模式,既可進行精度可媲美於實驗室光譜儀的金屬分析,也可進行分析時間只有數秒的快速材料分選。精密緊湊的設計可滿足不同的應用要求。查看更多內容
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移動式光譜儀採用了最新的 CCD 固態檢測器技術,全譜讀取完整的分析光譜,代表了數碼時代的最新直讀光譜技術。 常壓分光系統由於採用 14 塊 CCD 作為接收器,具有高達 28000 條圖元,實現分析波段內的全譜接收。各個元素分別採用 1-7 條譜線分析,綜合輸出,動態範圍大,結果準確。交替放置的 CCD 探測器滿足分析波段內的所有譜線接收無一遺漏,實現同一元素多條譜線同時測定,自動選擇輸出。 |
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移動式光譜儀在每次激發時,光學系統自動進行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作。
全譜技術自動描跡調整光路,激發樣品時,儀器自動識別每塊 CCD 上的特定譜線,與原存儲線進行對比,確定漂移位置,找出分析線當前的圖元位置進行測定。消除因溫度氣壓變化而產生的光譜漂移;而傳統使用光電倍增管技術的光譜必須進行手動進精細調節,技術要求很高。全譜技術自動快速定址,避免了費事費力的手動操作,也避免了人為誤差。 |
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移動式光譜儀採用全譜直讀 (TSA) 技術,儀器可以非常方便增加譜線,增加基體,而且可以記錄金屬樣品指紋,在不添加硬體設施的情況下,即可實現多基體分析。
客戶可以在使用過程中根據實際需要在儀器上增加分析的基體及元素種類,這些工作可以在用戶現場方便完成。相比同類採用 PMT 技術的光譜儀,則需要大範圍改動硬體。同時由於初始儀器的配置限制,可能無法添加客戶要求的基體或元素。 |
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移動式光譜儀採用高性能特製光纖技術 (HPC-Fiber)。
由於光譜儀在激發過程中處於高能高溫狀態,普通的石英材質的光纖在這種工作條件下會因為過度曝光 (Solarization) 導致性能的急劇減退,一般光纖在工作一個月後信號傳遞能力會衰減 90% 以上。大大影響光譜儀的工作性能。HPC 光纖運用突破性的技術解決了這一問題,保證了光纖能夠長期穩定的在最佳狀態下工作。
由於光纖在信號傳輸過程中能保持長期穩定的工作,使得儀器在測試超低碳及其他痕量元素應用時有了很好的表現,使客戶能夠利用移動式光譜在現場完成對於 L 型鋼材 (304/304L,316/316L) 的分揀和鑒定,而無需借助複雜的實驗室設備。 |
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移動式光譜儀採用了獨特的噴射電極技術 (JET STREAM)。在激發狀態下,電極周圍會形成氬氣噴射氣流。這種技術會帶來以下獨一無二的優勢。
A.激發點周圍的氬氣流保證了激發過程不受外界干擾
B.節省了氬氣的使用,降低了客戶的使用成本
C.線材等小樣品也可以非常方便的進行分析,而無需載入任何適配器 |
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移動式光譜儀的激發探頭設計十分巧妙,充分考慮了實際應用的需求,為用戶提供普通探頭和紫外 (UVPRO) 探頭和 UV Touch 探頭三種選擇。
普通探頭的設計結合了電弧和火花兩種激發模式,使用者只需通過更換一個激發艙即可完成激發方式的轉換。其中電弧模式對於樣品製備的要求較低,分析時間較快,主要用於金屬的分揀和牌號鑒定。火花模式對於樣品製備的要求較高,分析時間也較長,主要用於金屬材料的精確成分分析。同時使用者也能夠在火花模式下對黑色金屬中的碳(C)含量進行分析,檢測下限為 100ppm。
如果使用者的日常應用大量需要對紫外譜線元素如黑色金屬中的碳(C)、磷(P)、硫(S)、硼(B)、錫(Sn)、砷(As)等進行精確分析就可以選擇 UVPRO 探頭。 UVPRO 探頭在原有探頭技術的基礎上載入了氬氣沖洗式光室,專用於紫外元素的分析,其中碳(C)的檢測下限為 30ppm,磷(P)、硫(S)、錫(Sn)的檢測下限為 20ppm,而硼(B)的檢測下限為 10ppm。
UV Touch 探頭是最新型的智慧激發槍,與普通的紫外探頭相比,具有以下特點
1. 超長距離工作線纜可以讓工作半徑達到 10 米
2. 激發槍上自帶操作介面最佳的對比度設計保證室內室外的正常閱讀
3. 資料結果可以在激發槍和主機上同時即時顯示
4. 激發槍可以直接控制主機
5. 創新的槍頭設計可以在狹窄空間進行樣品檢測任何適配器 |
X 光檢測設備 x-ray 非破壞檢驗設備
金相組織 金相組織分析
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